0前言

    经过多年的发展，光纤光缆领域的技术标准已经逐步形成了一套相对稳定的标准体系。其中ITU-T的G.65x系列建议书，IEC的60793和63794系列标准，GB/T9771、GB/T15972、GB/T12357等系列国家标准，以及以行业标准为主的一系列光缆标准等，为光纤光缆产品的生产、工程建设和进出口检验提供了先进、统一的技术规范，提高了整个行业的标准化、规范化程度。

    随着近年来光纤光缆技术的进一步发展，部分标准的技术细节也在随之更新和修订，以更加适应市场的需要。本文主要介绍了2009年以来在光纤光缆领域技术标准的最新进展情况，并针对最新的修订内容进行了详细解释。

    1光纤技术标准进展

    1.1ITU-T光纤技术标准进展

    1.1.1ITU-TG.650.1

    ITU-TG.650.1于2010年进行了修订，其中主要的更新为以下几点。

    a)ITU-TG.650.1-2009第5.3节，删除了跳线截止波长的测试方法。由于实际意义较小，单模光纤规范中均删除了跳线截止波长的定义和指标要求。

    b)ITU-TG.650.1-2009第5.3.1.3节，截止波长的测试步骤，对打圈参考法和多模参考法的使用进一步给予了详细解释。对于打圈参考法，所打圈的半径应该在测试之前予以确定。圈的半径应足够小，以滤除次高阶模式，却不应太小，以至于引起长波长处的宏弯损耗。对于G.652~G.656光纤来说，典型的打圈半径为10~30mm，但对于某些G.657光纤，圈的半径可能要求更小。对于一些G.657光纤，由于其优异的抗弯曲特性，使用打圈参考法测试截止波长可能并不适合，这种情况下，推荐使用多模参考法进行测试。

    c)ITU-TG.650.1-2009第5.6节，增加了宏弯损耗的测试方法。

    1.1.2ITU-TG.650.3

    ITU-TG.650.3于2011年以增补文件的形式新增了资料性附录三：“在已安装的链路上区分宏弯点和熔接点的方法”，其主要原理是依据测试2个波长处的双向OTDR曲线，对于某一个损耗事件点，根据2个波长处实测损耗值，计算宏弯因子，再通过宏弯因子判断该处是否为异常宏弯点。由于G.657光纤的弯曲损耗一般很小，建议书中注明了此方法一般只适用于G.652光纤。同时，在不清楚链路中使用的光纤类型时，此方法也不适用。

    1.1.3ITU-TG.652~G.656

    G.652~G.656系列标准均在2009—2010年进行了更新，但实际的技术指标并没有大的变化。

    所有单模光纤系列的标准中，均删除了跳线截止波长的相关内容。

    1.1.4ITU-TG.657

    2009版的ITU-TG.657较上一版本变化较大，主要表现在对光纤分类上，由最早的G.657A和G.657B改为了G.657A1、A2、B2、B34个子类。

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